目前進(jìn)行樣品測(cè)試很多場合推薦采用ATR法，該方法測(cè)試過程簡單不需要樣品前處理，大大減輕了實(shí)驗(yàn)室人員的工作負(fù)擔(dān)同時(shí)也提高了檢測(cè)效率。那么國際上到底有多少種ATR附件可以適配各品牌的紅外光譜儀呢？從反射的次數(shù)來分似乎有單次的？還有多次的？而從ATR晶體的材料種類來分似乎更加科學(xué)。

單次反射的ATR附件具有較高的靈活性，既可以更換適合各種不同光譜范圍用途的晶體材料，還可以更換適合各種樣品特殊要求的晶體形狀。例如：高光通量的金剛石晶體；擴(kuò)展到遠(yuǎn)紅外的金剛石晶體；適合于一般油劑化合物的硒化鋅ZnSe晶體；適合于高吸收的鍺Ge晶體。形狀有：平板ATR晶體、也可以選擇凹陷ATR晶體.

衰減全反射（ATR）光譜技術(shù)是紅外光譜測(cè)試技術(shù)中一種應(yīng)用十分廣泛的采樣技術(shù)，將待測(cè)樣品置于ATR附件上方，紅外光束在ATR晶體內(nèi)發(fā)生衰減反射后到達(dá)檢測(cè)器，在測(cè)試液體樣品、漿狀樣品、膠狀樣品、粉末樣品、薄膜樣品、柔軟的聚合物等樣品時(shí)大有用處，既可以免除壓片制樣的繁瑣步驟，又可以避免溴化鉀吸水帶來的水的吸收峰對(duì)測(cè)試的干擾既可以免除壓片制樣的繁瑣步驟，又可以避免溴化鉀吸水帶來的水的吸收峰對(duì)測(cè)試的干擾，同時(shí)，ATR附件測(cè)試技術(shù)沒有任何消耗品。按晶體材料適合不同波長來分為鉆石晶體、ZnSe晶體，KRS-5晶體和Ge晶體等，多次反射水平ATR附件是液體、半液體材料、多種固體材料定性和定量分析的有力工具。高靈敏度，多種晶體材料，加熱、光催化、流通池等配置可選，可用于低濃度液體分析、原位ATR、光催化原位ATR等應(yīng)用場合

傅立葉紅外(FTIR)有很高的信噪比和靈活性,與ATR結(jié)合使用,在材料表面結(jié)構(gòu)的定性及定量研究中發(fā)揮了重要作用。很多高分子材料如塑料、橡膠、纖維、涂層等用一般的透射法測(cè)量很困難,但使用FTIR和ATR聯(lián)用技術(shù),則可以很方便地測(cè)繪其紅外光譜。同時(shí),利用ATR測(cè)試技術(shù),可以方便地用來表征兩種聚合物共混的相容性。